2020 RI
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[기본이론] 방사선 취급기술

이재승 교수님

· 방사성동위원소 취급자 일반면허(RI)대비 ‘원자력이론’ 기본 개념강의입니다.
· 담당 교수님 Q&A 서비스를 지원하지 않는 강좌입니다.

220,000 WON

수강기간 : 180일

    강의 목록
    번호 제목 첨부파일 영상재생 음성재생 런닝타임
    1 제1강 기체형 검출기(1) 45분
    2 제2강 기체형 검출기(2) 29분
    3 제3강 기체 충전형 검출기(3) 39분
    4 제4강 기체 충전형 검출기(4) 35분
    5 제5강 기체 충전형 검출기(5) 34분
    6 제6강 기체 충전형 검출기(6) 34분
    7 제7강 기체 충전형 검출기(7) 37분
    8 제8강 기체 충전형 검출기(8) 44분
    9 제9강 기체 충전형 검출기(9) 35분
    10 제10강 기체 충전형 검출기(10) 32분
    11 제11강 기체 충전형 검출기(11) 42분
    12 제12강 기체 충전형 검출기(12) 41분
    13 제13강 기체 충전형 검출기(13) 42분
    14 제14강 섬광작용을 이용한 검출기(1) 44분
    15 제15강 섬광작용을 이용한 검출기(2) 41분
    16 제16강 섬광작용을 이용한 검출기(3) 42분
    17 제17강 반도체 검출기(1) 44분
    18 제18강 반도체 검출기(2) 30분
    19 제19강 반도체 검출기(3) 38분
    20 제20강 기타 선량계(1) 46분
    21 제21강 기타 선량계(2) 54분
    22 제22강 측정 기술의 개요(1) 47분
    23 제23강 측정 기술의 개요(2) 42분
    24 제24강 측정 기술의 개요(3) 41분
    25 제25강 측정 기술의 개요(4) 36분
    26 제26강 측정 기술의 개요(5) 35분
    27 제27강 측정 기술의 개요(6) 47분
    28 제28강 방사능 측정(1) 42분
    29 제29강 방사능 측정(2) 42분
    30 제30강 에너지 측정(1) 39분
    31 제31강 에너지 측정(2) 30분
    32 제32강 에너지 측정(3) 37분
    33 제33강 에너지 측정(4) 28분
    34 제34강 에너지 측정(5) 30분
    35 제35강 저준위 방사능 측정(1) 42분
    36 제36강 저준위 방사능 측정(2) 26분

[기본이론] 방사선 취급기술

· 방사성동위원소 취급자 일반면허(RI)대비 ‘원자력이론’ 기본 개념강의입니다.
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방사선 취급기술 이재승 교수 2019-09-25 18,000

방사선 취급기술

목차

  1. 1 : 기체 충전형 검출기


    PART 1. 방사선 검출기

    1. 검출원리 ··············································································· 7

    2. 인가 전압과 수집 전하량과의 관계 ················································ 8

    3. 전리함 (Ionization chamber) ·············································· 11

    4. 비례계수관 (Proportional counter) ··································································· 21

    5. 에너지분해능 및 ɑß선 분리 측정····················································· 25

    6. GM 계수관 (Geiger-Müller counter) ····································· 28

     

    2 : 섬광 검출기

     

    1. 검출원리 ··························································· 42

    2. 섬광 검출기 시스템 ··························································· 43

    3. 섬광 검출기의 종류 ··························································· 46

     

    3 : 반도체 검출기

     

    1. 검출 원리 ··························································· 54

    2. 반도체 검출기의 종류 ··························································· 58

     

    4 : 기타 검출기

     

    1. 열 형광을 이용한 검출기 ··························································· 62

    2. Film Badge ··························································· 64

    3. 화학 선량계(Chemical dosimeter) ··························································· 66

    4. 열량계 (Calorimeter) ··························································· 67

     

    5 : 검출기의 성능

     

    1. 에너지 분해능 (R) ··························································· 70

     

    6 : 측정 기술의 개요

     

    1. 방사선 측성 시 고려해야 할 사항 ··························································· 74

    2. 방사선 측정 시 고려해야 할 주요 보정 인자 ······················································· 75

    3. 백그라운드의 영향 ··························································· 79

    4. 계수치()의 통계적 처리 ··························································· 80

    5. 측정치의 검증 : 검출기의 정상 작동 확인 (건전성 평가) ···································· 85

     

    7 : 방사능 측정

     

    1. 방사능 측정의 개요 ···························································88

    2. 방사능 측정 방법 ··························································· 88

    3. 준 직접 측정법 ··························································· 90

    4. 에너지 측정 (분광 분석 : Spectroscopy)

    5. 파고 분석기 ··························································· 93

    6. 광자 에너지 측정 ··························································· 95

    7. 하전 입자의 에너지 측정 ··························································· 99

    8. 중성자 측정 ··························································· 100

     

    8 장 저준위 방사능 측정 기술

     

    1. 저준위 방사능 측정 기술 ··························································· 102

    2. 최소검출한계 (MDL)와 최소검출방사능 (MDA) ········································· 103

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